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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
Ferromaster磁導(dǎo)率計(jì),List-Magnetik Ferromaster磁導(dǎo)率儀是測(cè)定相對(duì)磁導(dǎo)率μr的測(cè)量裝置,可以輕松確定磁導(dǎo)率在 1.001 和 1.999 之間的弱磁性材料和工件的相對(duì)磁導(dǎo)率 μr,通過(guò)用探頭jian 端接觸工件并從顯示屏讀取結(jié)果來(lái)測(cè)量磁導(dǎo)率。
更新時(shí)間:2026-04-14List-Magnetik的磁導(dǎo)率計(jì)FerroPro compact,可以測(cè)定材料和結(jié)構(gòu)部件的相對(duì)磁導(dǎo)率μr,范圍在1,000到5,000之間,磁導(dǎo)率或磁導(dǎo)率表明材料可以被磁化的強(qiáng)度。磁導(dǎo)率儀
更新時(shí)間:2026-04-14Rapid-Gold+ 是 Radcal Accu-Gold 系列中的固態(tài)診斷 X 射線測(cè)量系統(tǒng)。Rapid-Gold+ 系統(tǒng)包括 Radcal 的固態(tài)劑量和多傳感器以及可選的電流探頭。RGDM+MA射線測(cè)量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2026-04-14NanoXSpot微焦點(diǎn)測(cè)試儀,NanoXSpot焦點(diǎn)測(cè)試儀用于對(duì)光斑尺寸 100 µm 的 X 射線管進(jìn)行質(zhì)量保證,根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評(píng)估焦點(diǎn)尺寸 100 µm 和光斑形狀
更新時(shí)間:2026-04-14WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡每個(gè)線對(duì)組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成(薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開(kāi)),兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊,每組線對(duì)卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
更新時(shí)間:2026-04-14Accupyc II真密度儀,真密度是由氣體比重計(jì)確定的。我們使用 Accupyc II 1340和Accupyc II 1345來(lái)進(jìn)行測(cè)量,該技術(shù)使用氣體置換技術(shù)確定被測(cè)樣品的體積。使用通過(guò)天平確定的樣品重量計(jì)算密度。
更新時(shí)間:2026-04-14GeoPyc 1365封裝密度 分析儀,GeoPyc 1365密度分析儀利用一種由微小剛性球狀物質(zhì)組成的固體替代介質(zhì),具有很高的流動(dòng)性,在混合過(guò)程中可與樣品表面緊密貼合,但不會(huì)浸濕或進(jìn)入孔中
更新時(shí)間:2026-04-14HFIT 8.0高頻高壓絕緣測(cè)試儀是HFIT系列的下一代產(chǎn)品,旨在評(píng)估是否符合IEC 60601-2-2絕緣強(qiáng)度和電纜泄漏電流測(cè)試。標(biāo)準(zhǔn)模型是為可能需要處理從400Vp到7200Vp的各種額定值的測(cè)試機(jī)構(gòu)而設(shè)計(jì)的。Medteq 絕緣測(cè)試儀
更新時(shí)間:2026-04-14DM&S SMS-1000閃點(diǎn)測(cè)試儀,SMS-1000屏幕測(cè)試儀通過(guò)評(píng)估視覺(jué)閃爍、透射圖像的清晰度和反射率/透射率與觀察方向(即散射分布函數(shù)),為具有散射防眩層的顯示系統(tǒng)的全面優(yōu)化提供了獨(dú)特的基礎(chǔ)。
更新時(shí)間:2026-04-14PA-104 是一種高電壓 (±200 Vp)、高電流 (±200 mA) 和高頻(DC 至 250 KHz)放大器,旨在驅(qū)動(dòng)更高的電容(低阻抗)負(fù)載,例如低電壓堆棧,在中等頻率;或較低的電容負(fù)載,例如高頻下的超聲波設(shè)備。美國(guó)PIZEO壓電線性放大器
更新時(shí)間:2026-04-14
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